ITC 2017 APK

Konferensi Uji International adalah tempat utama dunia yang didedikasikan untuk pengujian elektronik perangkat, papan dan sistem-meliputi siklus lengkap dari verifikasi desain, desain-untuk-test, desain-untuk-manufaktur, debug silikon, tes manufaktur, pengujian sistem, diagnosis , keandalan dan kegagalan analisis, dan kembali ke proses dan perbaikan desain. Di ITC, desain, tes, dan profesional yield dapat menghadapi tantangan yang dihadapi oleh industri, dan belajar bagaimana tantangan-tantangan ini sedang ditangani oleh upaya gabungan dari akademisi, desain alat dan peralatan pemasok, desainer, dan insinyur tes. Konferensi ITC ini akan berfokus pada pengembangan teknologi Uji di Asia dan India tapi kiriman mungkin tidak terbatas pada topik yang terkait dengan wilayah ini. Topik yang terkait dengan DFT dan pengembangan tes di seluruh wilayah geografis multi-akan menarik khusus.